鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設(shè)計，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F(xiàn)3N3的探頭，厚可以測到3mm。

在測量以mm為單位的鍍層厚度時，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求?？蛻粼谶x購時可以根據(jù)測量材料的厚度來選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨，不滿意都可以退。

鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應(yīng)測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。

廣泛應(yīng)用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結(jié)構(gòu)、印刷線路版、及絲網(wǎng)印刷等行業(yè)中。特別適合用于生產(chǎn)現(xiàn)場的質(zhì)量管控。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進行簡單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：

1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。

2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。

3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。

4、完成后，可以把有標準值的測試片放在調(diào)零板上測量。測量的數(shù)值與標準測試片的誤差范圍之內(nèi)，則說明儀器可以正常使用了。

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