鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設計，所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測到5mm，F3N3的探頭，厚可以測到3mm。
在測量以mm為單位的鍍層厚度時，大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據測量材料的厚度來選擇相應的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨，不滿意都可以退。

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差，可以進行簡單的調零。用附送的鋁或者鐵調零板調零即可。調零方法：
1、將探頭垂直按壓在調零板中間的位置，保持探頭的穩定。
2、按下按鍵，屏幕會提示壓緊探頭，再根據提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調零完畢。
4、完成后，可以把有標準值的測試片放在調零板上測量。測量的數值與標準測試片的誤差范圍之內，則說明儀器可以正常使用了。

鍍層測厚儀有兩種開機使用方法。一種是探頭在測試過程中自動觸發開機，并且直接顯示出測量結果。這是因為采用了數字探頭，非常的靈敏，會自動識別出測量基材，并且自動轉換。
還有一種是按鍵開機。開機儀器會顯示探頭型號，兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。

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