手持式光譜儀產(chǎn)品詳細資料介紹，手持式光譜分析儀技術(shù)參數(shù)和性能配置由蘇州實譜信息科技有限公司提供手持式光譜儀報價和操作說明。按照不同的行業(yè)和測試物質(zhì)，可分為手持式合金分析儀XRF5000，手持式礦石分析儀XRF7000，XRF8000，手持式土壤重金屬分析儀XRF9000，手持式ROHS有害元素分析儀XRF3000。利用新一代半導體檢測器提高測試速度和分析精度，手持式光譜儀的應用已經(jīng)越來越廣泛。
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

手持式光譜儀設(shè)備維護與保養(yǎng)： 　　
1.手持式光譜儀使用過程中應輕拿輕放，防止內(nèi)部零件受損。
 2.保持檢測口薄膜的清潔，檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續(xù)使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應及時清潔或更換。 　　
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機或金剛砂去除，以免造成測量結(jié)果不準確，被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時應在檢測時注意，防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時，要將電鍍層去除。 　　
4.手持式光譜儀電池使用至10%時，應更換電池，充電。

手持式光譜儀用于的定量定性分析：
手持式光譜儀是一種功能強大,并且可擴展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號鑒別和分選.它包括激發(fā)和配有可充電電池的光譜儀主機兩部分.它工作時,既不需要氬氣,也不需要放射源。 1、原理：手持式光譜儀屬于熒光光譜,實驗室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發(fā)源不同 2、精度：手持式光譜儀主要用于定性分析,實驗室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍：手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無法激發(fā)的基體,例如鋯基體；實驗室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類比手持式的要多。

技術(shù)參數(shù)： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發(fā)源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測器： SI-PIN檢測器 操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng)：Peltier 半導體冷卻系統(tǒng) 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 　濕度：0～95%
手持式光譜分析儀 產(chǎn)品優(yōu)勢：
 1、一鍵式開機并檢測。 2、一體式供電，解決了電腦缺電造成測試數(shù)據(jù)丟失的風險。 3、只需開機一次。（超長待機無需關(guān)閉電源，無檢測操作時自動待機，同時光管及探測器斷電停止工作） 4、自動關(guān)機（自定義長時間未進行檢測操作）